製品情報

静的画像解析粒子解析装置 BeVision M1

静的画像解析粒子解析装置
BeVision M1

BeVision M1は、1~10,000 μmの範囲で粒子サイズと形状を評価します。湿式と乾式測定に対応し、使いやすく信頼性と精度も兼ね備えています。

  • 概要
  • 特徴
  • 仕様
  • 導入事例事例

画像の二値化による自動面積計測、清浄度評価やキャリブレーションにより、容易な操作で人為誤算のない結果が得られます。金属顕微鏡、精密ステージ、自動キャリブレーション機能、高解像度CMOSを搭載したBeVision M1は、粒子の画像をキャプチャーし、多視野を広視野画像に合成することができます。

機能と利点

  • 粒子径測定範囲:1~10,000 µm
  • ISO 9276-6に準拠
  • 高い再現性
  • 高速CCDカメラを採用
  • 使いやすいソフトウェア
  • 広視野画像において計測可能
  • 24種類の粒子径と形状のパラメータを取得可能
  • 表面清浄度評価が可能

BeVision M1の概要と特徴

① 乾式・湿式サンプル両方対応可能な自動画像解析技術

従来の顕微鏡に比べて圧倒的な効率化と、人による誤差の解消

 

② 広視野画像において計測可能

画像連結モードでは、隣り合う複数の画像を広視野画像に合成し、繊維や粗大粒子が含めた場合でも、ディテールを失うことなく記録・分析できます。

③ 金属粒子と繊維を識別可能

形態学的および光学的特性に基づいて金属粒子と繊維粒子を識別できます。

 

④ 清浄度評価が可能

指定した範囲における粒子径と粒子個数を分析することで清浄度評価を行います。航空機、自動車、造船、計測機器などの精密製造業にお役に立ちます。

 

⑤ 24の粒子サイズおよび形状パラメータを提供

⑥ 乾式粉末測定をサポートする分散モジュール BT-910

BT-910乾燥粉末分散モジュールは、設定された空気圧差を生成し、分散気流を駆動します。凝集体を分散し、均一に分散して測定することで乾燥粉末の信頼性の高い再現可能な分散法を提供します。粗い試料や脆い粒子にもダメージを与えることなく制御された条件下で分散でき、様々なアプリケーションに適しており経験レベルを問わず使いやすいプロセスです。

操作性の高いBeVisionソフトウエア

評価項目が充実

粒子径に関する11項目、形状の13項目、単粒子画像など。

全自動操作

画像処理、粒子同定、粒子分析、粒子情報統計などを自動に行えます。

重なり合う粒子を識別可能

重なり合う粒子や凝集体を識別することで、測定結果への干渉を回避します。

粒子ひとつひとつを観察可能

不規則な形状を持つ粒子が、普通の粒子か凝集体かを判断するのに役立ちます。

 様々な表示方法

頻度分布図、累積分布図、ヒストグラム、散布図などを通じて統計解析結果が表示出来ます。

キャリブレーション機能

粒子に応じて倍率とピントを合わせることができるため、正確で精度の高い測定が可能です。

再解析機能

保存された粒子画像を再分析し、元のデータとは別に新規記録を作成することができます。

準拠

測定結果はISO 9276-6:2008に準拠しています。

  • 特徴
  • 粒子径測定範囲:1~10,000 µm
  • ISO 9276-6に準拠
  • 高い再現性
  • 高速CCDカメラを採用
  • 使いやすいソフトウェア
  • 広視野画像において計測可能
  • 24種類の粒子径と形状のパラメータを取得可能
  • 表面清浄度評価が可能
  • 仕様

  • 導入事例
  • 研磨剤
  • 塗料、インク、コーティング
  • 金属粉末
  • 医薬品
  • 鉱業、鉱物
  • 生物学、微生物
  • セラミック
技術情報 Technical information
  • 動的画像解析式 粒子径測定
  • 粒子径・分布・形状評価
  • 粉体の基本的な物理的特性評価
  • 粉体の性質や物性評価法(流動性、粒子径、水分吸脱着等)